那么，把I2引线延长，直到A点的部分，就串联了一个铜电阻，温度系数为正。适当选择长度，主电阻与铜电阻串联后，从A点引出的电压信号就是正温度系数的了。而已知P2点引出的电压为负温度系数，因此，采用两个适当的电阻R2和R4对这两个点进行分压，则必有一个阻值，使得分压点的温度系数为零，引出P2'即可。
但是，以上方法要引入3个电阻，比较复杂。经实际测试，电流端内部引线存在电阻R3，也是铜的，对于R01的阻值此电阻大约为1.2mR，使得I2引出点的温度系数本身就是正的了，因此可以去掉串联铜阻，直接把两个分压电阻做到引线上：
事实上，电压端的内部也存在一个引线电阻R1，大约为7mR，因此可以直接加以利用，外部只接入一个电阻即可，即分压电阻实际上是由R1和R2来完成的：
实际上，也完全可以这样去想：P2的输出为负温度系数，但I2的输出为正温度系数，那么用一个电阻接到这连个端子上，就可以使得原本负的系数向正向靠拢，最后得到零温漂。
当然，实际做下来，所需要的电阻阻值比计算值要小不少，这个电阻本来具备-4.8ppm/C的温漂，最后的结果是只接了一个16mm长度（阻值约120mR）的电阻丝（从10欧电阻上拆下），使得温漂达到了+0.3ppm/C，取得了不错的补偿效果。
最后，给出lilith做的电阻假设进行补偿的方法。
其中橙色的就是一段补偿用的电阻丝，而由于补偿后，可能造成原来电阻偏大，因此需要在电流端并联一个较大的电阻把阻值调节回来。
测试对象和测试结果
测试条件：主要是温度要控制一下，或者监视。
测试内容：除了电阻阻值外，主要就是温度系数了。
测试设备：高稳定电流源，电压表，加温设备
自己要测试的电阻照片
这是我自己小电阻（<=1Ω）的大约60%。
测试是以Thomas 1Ω为起点开始对比传递的，因为这1Ω代表了最高精度、最少老化的原始基准。
也由于小电阻中1:1对比是最容易的，所以首先对比的是7只1Ω的，然后是1欧向0.1Ω的传递、0.1欧向0.01Ω的传递等等。
阻值
对于标准电阻，当然是阻值越接近标称值就越好。但对于分流器，要求就不那么高。
老化
测量老化很难，需要很长时间。唯一能走的捷径，就是电阻在出厂的时候（或者在中间校准的时候）给出了具体数值（和校准时间）。这样，当时隔数年，电阻有了变化后再来测试，就能够推算出其老化来。
温度系数
温度系数相对来讲比较好测试，只需要在常规的测试条件下增加一个恒温箱。大电流恒流源
以上讲的几种测试小电阻的办法，大多是用小电流，靠精密测试其较小的电压来得到阻值。这样的做法避免了大电流、减少了发热、对测试设备也要求较低，有他的优势。但是，往往很多大电流设备例如分流器，要其必须在额定电流下测试，或则在额定电流的一个较大的范围内变动（即测试状态等于工作状态），因此必须利用大电流源了。
大电流恒流源的产生，往往又要用到高精密小阻值电阻，这样DIY的话就有了问题：到底是先做大电流源？还是先选小阻值电阻？
解决的办法就是逐级进行：先DIY 100mA的恒流源，测试好0.1欧到1欧之间的小电阻作为1A恒流源的采样电阻，DIY 1A恒流源，然后再用1A恒流源测试0.01欧的电阻，做10A恒流源，依次类推。
到底多大的电流选择多大的电阻，主要取决于小信号放大的不理想（热电动势、噪音）和电阻的自热温漂。
检流电阻太大，则功率就大。电阻不可避免有温度系数，越小的电阻往往温度系数越大，发热后漂移就很大了。
检流电阻太小，那么电压就小，必须放大，但放大器会有近微伏级别的偏差，因此0.1V的压降影响就近10ppm了，而且热电动势做不好也是微伏级别的，尤其是大功率电阻的发热加重热电动势的产生。
解决的办法，除了选择好的材料和工艺外，再就是加大电阻的体积、减少热阻，这其实就是增大成本。因此，选择大电流采样电阻，就是热电、功率、成本的一个权衡。
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